LED檢修和LED電源設(shè)計實踐經(jīng)驗

　　在LED電源產(chǎn)品的設(shè)計過程中，工程師們需要處理的絕不僅僅是電路設(shè)計問題，更多的是LED電源的驅(qū)動方案選擇、LED的壽命維系以及后期的維護和檢修工作等。今天小編特別整理了一些在LED檢修和LED電源設(shè)計過程中的實用經(jīng)驗，歡迎大家參考。

　　第一個問題：在設(shè)計LED電源產(chǎn)品時，怎么做才能設(shè)計出高品質(zhì)LED驅(qū)動電路呢?

　　相信很多從事LED電源設(shè)計的工程師們都非常清楚，LED是目前世界上所研發(fā)的一種長壽命的電子元件，理想狀況下的LED其工作壽命可達50000小時，但應(yīng)用電路設(shè)計不合理、LED電源散熱性設(shè)計不好等因素，都會影響它的使用壽命。而面對這一問題，使用能夠省去電解電容器的新一代LED驅(qū)動IC，是一種切實可行的解決方案。

　　對于從事LED電源及周邊產(chǎn)品研發(fā)的工程師們來說，在設(shè)計新一代的驅(qū)動IC時，必須要打破以往傳統(tǒng)的DC-DC拓撲結(jié)構(gòu)設(shè)計思維，可以采用恒功率、摒棄磁滯控制的降壓型設(shè)計思路來進行新產(chǎn)品研發(fā)，采用定頻定電流控制也是一個好辦法。除此之外，高品質(zhì)的LED驅(qū)動電路電路應(yīng)力求簡潔，減少元器件的使用數(shù)量，并有效提高PWM控制器的占空比等。滿足以上條件，所設(shè)計的新一代驅(qū)動IC才能夠滿足高品質(zhì)驅(qū)動電路的設(shè)計需求。

　　第二個問題：LED被靜電擊穿的原理是什么樣子的?造成擊穿的原理是怎么回事呢?

　　在進行LED電源的調(diào)試過程中，相信工程師們都曾經(jīng)遇到過接通樣機后，LED元件被擊穿的情況，這其中有相當一部分是被靜電所擊穿的。LED作為一種半導(dǎo)體，其本身的PN結(jié)是直接裸露在外頭的，很容易接觸靜電。當LED兩個電極上極性不同的電荷積累到一定的程度，又得不到及時釋放時，此時電荷能量一旦超過LED芯片最大承受值，電荷將以極短的瞬間在LED兩個電極層之間進行放電，并在導(dǎo)電層之間局部會形成1400℃以上的高溫，高溫將會把導(dǎo)電層之間熔融成一些小孔，這就是我們在LED電源測試過程中，常遇到的LED擊穿現(xiàn)象了。

　　在進行LED電源的新產(chǎn)品樣機測試時，一旦遇到LED元件被靜電擊穿的現(xiàn)象，說明所設(shè)計的電路中有不合理的因素存在，此時工程師需要及時的進行電路設(shè)計調(diào)整并重新測試。

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