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分析高壓泵電路的ramp對EEPROM耐久力的影響
全部作者: 張紅 黃其煜 韓興成 第1作者單位: 上海交通大學(xué)微電子學(xué)院 論文摘要: 本文將結(jié)合器件本身固有的特點(在0.18 EE 工藝平臺上),通過研究可靠性失效相關(guān)的參數(shù),找到與設(shè)計相關(guān)聯(lián)的因素, 并圍繞這些因素進(jìn)行設(shè)計的優(yōu)化和改良。本文主要從高壓泵ramp的角度來找到提高耐久力(endurance)的方法。 關(guān)鍵詞: 高壓泵,ramp,耐久力(endurance),設(shè)計 (瀏覽全文) 發(fā)表日期: 2008年04月29日 同行評議:
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